frohid.cn-国产女人18毛片水真多18精品,无码中文人妻在线一区二区三区,国产不卡视频一区二区三区,妇女敕BBB搡BBBBBB搡

網站導航

產品中心

當前位置:主頁 > 產品中心 > 奧林巴斯光學顯微鏡 > 奧林巴斯紅外顯微鏡 >奧林巴斯紅外顯微鏡BX53M IR

奧林巴斯紅外顯微鏡BX53M IR

型號:

產品時間:2017-08-26

簡要描述:

可對裸眼不可見的區域進行無損的檢查和分析,以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對半導體晶片內部和集成電路組件背面進行無損的CPS bumps觀察

詳細介紹

奧林巴斯BX53M IR紅外觀察顯微鏡

可對裸眼不可見的區域進行無損的檢查和分析,以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對半導體晶片內部和集成電路組件背面進行無損的CPS bumps觀察

 

IR物鏡可用于透過硅材料成像,進行半導體檢查和測量。配備了5倍到100倍紅外(IR)物鏡,提供了從可見光波長到近紅外的像差校正。對于高放大倍率的物鏡,配備了LCPLN-IR系列帶校正環的物鏡,校正由樣品厚度導致的像差。使用一個物鏡即可獲取清晰的圖像。

紅外顯微鏡應用

 


產品咨詢

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
推薦產品

如果您有任何問題,請跟我們聯系!

聯系我們

版權所有 © 2019 英菲洛精密科技(蘇州)有限公司 蘇ICP備16057976號-1 技術支持:化工儀器網 管理登陸 sitemap.xml

地址:蘇州吳中區太湖智創園J棟(請直接電聯或轉至留言)

在線客服 聯系方式 二維碼

服務熱線

15850205405

掃一掃,關注我們